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2013红外热像检测技术系列学术研讨会通知

应北京维泰凯信新技术有限公司邀请,美国 TWI 公司总经理Bharat Chaudhry将于2013年4月15日-21日访华。以Bharat Chaudhry访华的契机,为了推广红外热像检测技术,促进该技术在我国国民经济各领域的应用,无损检测学会非常规检测专业委员会将在西安和北京举办红 外热像检测技术专题系列研讨会,各地研讨会分别由航空623所、首都师范大学和北京维泰凯信新技术有限公司等单位承办。有意向参加者可根据如下拟定的日程 选择适合的时间、地点参加,并请提前报名,以便安排。
1、西安研讨会
时间:4月17日上午9:30
地点:朱雀门外西南角 德桂圆大酒店七楼会议室
联系人:曲亚林 029-88268131 13484953741
电子邮件: 435169443@qq.com
2、北京研讨会
时间:4月19日下午2:00
地点:首都师范大学北一区国际文化大厦第六会议室
联系人:李晓丽 010-68902940 15210716696
陶宁 13811525440
电子邮件:lixiaoli.127@163.comhttp://www.industryinspection.com
此外, TWI公司还将4月18日-4月20日期间参加第二届中国(北京)国际无损检测应用设备展,在中国国际展览中心(北京北三环东路6号)设有展位(展位号7号馆748),现场将有设备展示和现场实验。
所有研讨会活动不收费,旅差、食宿费用参加者自理。有兴趣参加者,请于4月17日前报名,以便发送正式通知。

无损检测学会
非常规检测专业委员会
2013-4-14

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